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日本同步辐射研究中心崔艺涛博士学术讲座

2013年12月19日 12:08

题 目:Hard x-ray photoemission spectroscopy and its applications

时 间:2013年12月21日上午9:30

地 点:开元校区图书馆一楼西南报告厅

主办单位:9999js金沙老品牌

主讲人简介:

崔艺涛,男,2007年获日本广岛大学博士学位,先后在日本广岛大学放射光科学研究中心从事研究助理和博士后研究员工作。2010年回国,受聘于中科院大连化物所副研究员职位。2011年返回日本,以博士研究员身份在日本同步辐射研究中心SPring-8工作至今。主要从事光电子能谱的实验工作,熟悉STM、XPS、ARPES、XAFS、XMCD等实验研究手段,在Phys. Rev. B, Phys. Rev. Lett., Nature Chem.等期刊上发表论文多篇。近期主要工作有:1. 能分析15 keV电子的超高分辨高能光电子谱仪开发;2.高温常压气氛下原位XAFS测量开发;3.开发无人值守的光电子谱及XAFS的自动化测量系统;4.硬X射线光电子谱在工业应用开发;5. 8 keV光电子谱标准化数据库建设、数据定量分析、新分析方法开发;6. 利用光电子谱、吸收谱、XRD等同步辐射手段进行二次电池相关材料,透明电极材料,催化剂,电子器件等研究。

报告摘要:

The newly developed high-energy, high-resolution hard x-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES) at third generation synchrotron light sources, improves greatly the photoelectron inelastic mean free path. It indicates that HAXPES can be used to detect the bulk information, interface or buried phases, even for the samples without surface treatment. In this lecture, the advantages and our efforts to overcome the disadvantages of HAXPES as well as the great potential in applications will be introduced. As examples, the industrial applications will be discussed such as battery materials, catalysis as well as buried layers etc.

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